Metrologia II - III sem.

stacjonarne

I stopnia

obowiązkowy

W 14/+ ; C 6/z ; L 10/+ ; Razem: 30

fizyka I i II / wymagania wstępne: znajomość i rozumienie zjawisk fizycznych zachodzących w przetwornikach pomiarowych, umiejętność stosowania matematyki do ilościowego opisu zjawisk fizycznych;

metrologia I / wymagania wstępne: znajomość podstawowych pojęć metrologicznych, metod i układów pomiarowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych i nieelektrycznych, znajomość zasady pracy, parametrów i charakterystyki podstawowych przyrządów i przetworników pomiarowych, umiejętność obliczania niepewności pomiarowej, posługiwania się przyrządami i wykonywania pomiarów podstawowych wielkości elektrycznych i nieelektrycznych;

elektrotechnika i elektronika I / wymagania wstępne: znajomość i interpretacja zjawisk fizycznych występujących w obwodach elektrycznych, umiejętność analizy i projektowania obwodów prądu stałego i przemiennego oraz umiejętność pozyskiwania i interpretacji informacji pozyskiwanej z literatury i dokumentacji technicznej oraz umiejętność doboru podzespołów elektronicznych do realizacji prostych układów i urządzeń elektronicznych.

semestr trzeci / lotnictwo i kosmonautyka / wszystkie specjalności

dr inż. Zdzisław ROCHALA

aktywność / obciążenie studenta w godz.:

1. Udział w wykładach / 14

2. Samodzielne studiowanie tematyki wykładów i przygotowanie się do zaliczenia / 15

3. Udział w ćwiczeniach / 6

4. Samodzielne przygotowanie się do ćwiczeń / 9

5. Udział w laboratoriach / 10

6. Samodzielne przygotowanie się do laboratoriów / 34

7. Udział w konsultacjach / 2

8. Udział w zaliczeniu / 1

Sumaryczne obciążenie pracą studenta: 90 / 3 ECTS

Zajęcia z udziałem nauczycieli: 1.+3.+5.+7.+ 8.=33 / 1,0 ECTS

Zajęcia o charakterze praktycznym: 5.+6.=44 / 1,5 ECTS

Klasyfikacja sygnałów pomiarowych. Wprowadzenie do cyfrowych technik pomiarowych. Struktura, organizacja i klasyfikacja systemów pomiarowych. Elementy składowe cyfrowego toru pomiarowego. Przetworniki pierwotne – czujniki parametryczne i generacyjne, przetworniki kondycjonujące – kondycjonery sygnałów, przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe systemów pomiarowych. Przetworniki inteligentne i układy akwizycji danych. Autonomiczne cyfrowe uniwersalne przyrządy pomiarowe – multimetry i oscyloskopy. Komputerowe systemy pomiarowe. Moduły i karty pomiarowe. Wirtualne przyrządy pomiarowe. Interfejsy w systemach pomiarowych. Oprogramowanie systemów pomiarowych.

Wykład / metoda werbalno-wizualna

1. Wprowadzenie do cyfrowych technik pomiarowych / 1

2. Definicja i klasyfikacja systemów pomiarowych / 1

3. Przetworniki pierwotne systemów pomiarowych – czujniki parametryczne i generacyjne / 2

4. Przetworniki kondycjonujące systemów pomiarowych – kondycjonery sygnałów / 2

5. Przetworniki cyfrowo-analogowe i analogowo-cyfrowe systemów pomiarowych / 2

6. Autonomiczne cyfrowe uniwersalne przyrządy pomiarowe – multimetry i oscyloskopy / 2

7. Komputerowe systemy pomiarowe – karty pomiarowe i wirtualne przyrządy pomiarowe / 2

8. Interfejsy i oprogramowanie systemów pomiarowych / 2

Ćwiczenia / metoda werbalno-praktyczna

1. Obliczanie parametrów pasywnych układów kondycjonowania sygnałów / 2

2. Interpretacja podstawowych parametrów przetworników A/C i C/A / 2

3. Określanie niepewności pomiarowej przy pomiarach wybranymi przyrządami cyfrowymi / 2

Laboratoria / metoda praktyczna

1. Badanie wybranych przetworników mechano-elektrycznych stosowanych w lotnictwie / 2

2. Badanie przetworników A/C różnych typów / 2

3. Pomiary parametrów podsystemów pokładowych za pomocą multimetrów cyfrowych / 2

4. Badanie sygnałów diagnostycznych za pomocą oscyloskopów cyfrowych / 2

5. Pomiary z wykorzystaniem rozproszonego systemu pomiarowego / 2

podstawowa:

1. Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna, wyd. X całkowicie zmienione, WNT, Warszawa 2010,

2. Grzegorczyk T., Janiszewski J., Trębiński R.: Metrologia i teoria eksperymentu cz. I i cz. II, Wyd. WAT, Warszawa 2004,

3. Nawrocki W.: Sensory i systemy pomiarowe, Wyd. PP, Poznań 2006,

4. Winiecki W.: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, Of. Wyd. PW, Warszawa 2006.

uzupełniająca:

1. Chwaleba A., Czajewski J.: Przetworniki pomiarowe i defektoskopowe, Of. Wyd. PW, Warszawa 1999,

2. Domańska A.: Cyfrowe metody badania przetworników analogowo-cyfrowych, Wyd. PP, Poznań 2010.

W1 / Ma podstawową wiedzę z zakresu budowy i zasady działania elementów składowych cyfrowych torów pomiarowych (przetworników mechano-elektrycznych, układów kondycjonowania sygnałów, przetworników AC i CA) wykorzystywanych w lotnictwie / K_W03

W2 / Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie metrologii wielkości elektrycznych oraz technik wykonywania pomiarów z wykorzystaniem przyrządów cyfrowych i rozproszonych systemów pomiarowych / K_W05

W3 / Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie komputerowych systemów pomiarowych w tym przede wszystkim kart pomiarowych i wirtualnych przyrządów pomiarowych / K_W06

U1 / Potrafi pozyskiwać informacje z kart katalogowych przetworników, integrować uzyskane informacje w celu wykonania pomiarów oraz dokonywać poprawnej interpretacji i wyciągać wnioski z otrzymanych danych / K_U01

U2 / Potrafi posłużyć się właściwie dobranymi metodami, w tym obliczyć parametry pasywnych układów kondycjonowania, w celu realizacji badania przetworników AC i mechano-elektrycznych wykorzystywanych na statkach powietrznych / K_U08

U3 / Potrafi z zachowaniem zasad bezpieczeństwa, wykorzystać multimetry i oscyloskopy cyfrowe oraz karty pomiarowe i komputerowe systemy pomiarowe do badań mających na celu utrzymanie ciągłej zdatności podsystemów statków powietrznych / K_U16

K1 / Rozumie potrzebę i zna możliwości ciągłego doszkalania się w zakresie technik pomiarowych wykorzystywanych w lotnictwie / K_K04

Przedmiot zaliczany jest na podstawie: zaliczenia z oceną.

Ćwiczenia zaliczane są na podstawie: zaliczenia.

Ćwiczenia laboratoryjne zaliczane są na podstawie: zaliczenia z oceną.

Zaliczenie przedmiotu jest prowadzone w formie pisemnego testu sprawdzającego z zadaniami zamkniętymi i otwartymi, warunkiem dopuszczenia do zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen z wszystkich efektów kształcenia.

Zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych na ocenę odbywa się na podstawie średniej z pozytywnych ocen z przygotowania i wykonania ćwiczeń laboratoryjnych oraz z wykonania i zaliczenia sprawozdania.

Efekty W1, W2, W3 sprawdzane są podczas rozwiązywania zadań na ćwiczeniach rachunkowych oraz w trakcie zaliczenia realizowanego w postaci testu sprawdzającego z zadaniami zamkniętymi i otwartymi.

Efekt U1 sprawdzany jest w trakcie odpowiedzi na ćwiczeniach rachunkowych, przygotowania do ćwiczeń laboratoryjnych i na podstawie przygotowanego sprawozdania z przeprowadzonych badań.

Efekt U2 sprawdzany jest na ćwiczeniach rachunkowych oraz w trakcie zaliczenia realizowanego w postaci testu sprawdzającego w postaci pięciu zadań otwartych.

Efekt U3 sprawdzany jest w trakcie sprawdzenia przygotowania do ćwiczeń laboratoryjnych i na podstawie obserwacji pracy studenta na ćwiczeniach laboratoryjnych oraz na podstawie oceny sprawozdań z ćwiczeń laboratoryjnych.

Efekt K1 sprawdzany jest podczas obserwacji studentów na ćwiczeniach rachunkowych i laboratoryjnych. Ocena za osiągnięcie tego efektu jest przyznawana łącznie za osiągnięcie umiejętności U1, U2, U3.