Wzorcowanie przyrządów pomiarowych
Informacje ogólne
Kod przedmiotu: | WELEMCSM-WPP |
Kod Erasmus / ISCED: | (brak danych) / (brak danych) |
Nazwa przedmiotu: | Wzorcowanie przyrządów pomiarowych |
Jednostka: | Wydział Elektroniki |
Grupy: | |
Punkty ECTS i inne: |
(brak)
|
Język prowadzenia: | polski |
Forma studiów: | stacjonarne |
Rodzaj studiów: | II stopnia |
Rodzaj przedmiotu: | obowiązkowy |
Forma zajęć liczba godzin/rygor: | W 10/+ , L 20/+; Razem:30 |
Przedmioty wprowadzające: | Podstawy metrologii / Wymagania wstępne: pożądana znajomość układów i systemów pomiarowych oraz przetworników pomiarowych, elementów teorii szacowania niepewności wyników pomiarów, organizacji procedur pomiarowych oraz analizy i interpretacji wyników pomiarów. Miernictwo elektroniczne / Wymagania wstępne: pożądana znajomość budowy i zasad działania przyrządów pomiarowych, metod akwizycji i przetwarzania wyników pomiarów oraz zastosowania systemów informacyjno-pomiarowych w procesie przetwarzania danych pomiarowych. Źródła sygnałów wzorcowych / Wymagania wstępne: pożądana znajomość realizacji dokładnych pomiarów podstawowych wielkości elektrycznych, technik i narzędzi generacji przebiegów czasowych, funkcyjnych, impulsowych i złożonych. |
Programy: | Semestr I /kierunek : Elektronika i telekomunikacja; specjalność: Systemy informacyjno-pomiarowe |
Autor: | dr inż. Janusz Wawer |
Bilans ECTS: | 1. Udział w wykładach / 10 2. Samodzielne studiowanie tematyki wykładów / 6 3. Udział w laboratoriach / 20 4. Samodzielne przygotowanie się do laboratoriów / 20 5. Udział w konsultacjach / 4 6. Przygotowanie do zaliczenia / 5 7. Udział w zaliczeniu / 1 Sumaryczne obciążenie pracą studenta: 66 / 2 ECTS Zajęcia z udziałem nauczycieli: 1.+3.+5.+7.=35 / 1 ECTS Zajęcia o charakterze praktycznym: 3.+4.=40 / 1 ECTS |
Skrócony opis: |
Przedmiot ma za zadanie zaznajomienie studentów z podstawowymi zagadnieniami dotyczącymi matematycznych podstaw pomiaru opartymi na teorii mnogości, porządkującej zbiory cech zjawisk i przedmiotów. Poznaje różne systemy wielkości, jednostki miar i ich wzorce oraz procedury wzorcowania. W trakcie zajęć laboratoryjnych student nabywa też wiedzy związanej z praktycznymi aspektami wzorcowania przyrządów pomiarowych. |
Pełny opis: |
Wykład / metody dydaktyczne: werbalno-wizualna prezentacja treści programowych 1. Matematyczne podstawy pomiaru / 2 godz. Cechy zjawisk i przedmiotów. Relacje w zbiorach. Relacje porządkujące w zbiorach. Izomorfizm relacji. Funkcje skalujące, funkcja pomiarowa 2. Wielkości fizyczne i jednostki miary. Wzorce jednostek miar / 2 godz. Systemy wielkości, jednostki, systemy jednostek. System SI. Jednostki pozaukłdowe i stosowane w szczególnych dziedzinach. Przeznaczenie i cechy wzorców. Realizacje wzorców wielkości elektrycznych. Wzorce kwantowe. 3. Zachowanie jednolitości miar/ 2 godz. Hierarchia wzorców. Pojęcie trasabilności miary. Utrzymanie i rola wzorców lokalnych. Dokumentacja ciągłości łańcucha pomiarowego. Zadania GUM w dziedzinie zapewnienia jednolitości miar.Wzorcowanie z użyciem wzorców o niepomijalnej niepewności. Interpretacja rezultatów wzorcowania 4. Źródła niepewności wzorcowania / 2 godz. Wzorcowanie bezpośrednie. Wzorcowanie pośrednie. Wzorcowanie pierwotne i eksploatacyjne. Wstępne opracowanie wyników wzorcowania.Niepewność wzorca. Niepewność przyrządu wzorcowanego. Wyrażanie niepewności przy wzorcowaniu. Złożona niepewność wyników wzorcowania. Wymagania dokumentu EA-4/02. 5. Wzorcowanie multimetru cyfrowego i oscyloskopu / 2 godz. Przegląd i szczegółowa analiza procedur. Analiza źródeł niepewności. Budżet niepewności. Laboratoria / metody dydaktyczne: repetytorium; praktyczne poznawanie zagadnień związanych z prowadzeniem pomiarów 1. Sprawdzanie multimetru cyfrowego / 4 godz. 2. Sprawdzanie generatora pomiarowego m. cz./ 4 godz. 3. Sprawdzanie generatora pomiarowego w. cz. / 4 godz. 4. Sprawdzanie oscyloskopu elektronicznego / 4 godz. 5. Sprawdzanie częstościomierza cyfrowego / 4 godz. |
Literatura: |
podstawowa: 1. Chwaleba A. Poniński M. Siedlecki A.: Metrologia elektryczna. Wyd. 5,6,7,8 WNT, Warszawa 1996,1998,2000,2003, 2010 2. Piotrowski J. Kostyrko K.: Wzorcowanie aparatury pomiarowej. PWN S.A., Warszawa 2000 3. Praca zbiorowa : Etalony i precyzyjne pomiary wielkości elektrycznych. WKiŁ, Warszawa 1982 uzupełniająca: 1. Ostapczuk A., Multimetr cyfrowy V –533. Instrukcja sprawdzania, MON 1997 (R-6943) 2. Litwinko T., Oscyloskop elektroniczny. Instrukcja sprawdzania, MON 1996 (R–6874) 3. Praca zbiorowa, Generatory sygnałów PG 20, PGS-21. Ogólna metodyka legalizacji, MON 1992 (R-6041) |
Efekty uczenia się: |
W1 / Ma uporządkowaną i pogłębioną wiedzę w zakresie technik i technologii stosowanych w systemach elektronicznych lub telekomunikacyjnych / K_W12 U1/ Potrafi pozyskiwać informacje z literatury, baz danych i innych źródeł, potrafi integrować uzyskane informacje, dokonywać ich interpretacji i krytycznej oceny, a także wyciągać wnioski oraz formułować i wyczerpująco uzasadniać opinie / K_U01 U2/ Potrafi integrować wiedzę z dziedziny elektroniki, informatyki i innych dyscyplin , z uwzględnieniem aspektów pozatechnicznych / K_U13 K1/ Ma świadomość ważności i rozumie pozatechniczne aspekty i skutki działalności inżynierskiej, w tym jej wpływu na środowisko /K_K02 |
Metody i kryteria oceniania: |
Przedmiot zaliczany jest na podstawie: zaliczenia Ćwiczenia laboratoryjne zaliczane są na podstawie uzyskania pozytywnej oceny z wszystkich ćwiczeń przewidzianych do realizacji. Zaliczenie pojedynczego ćwiczenia wymaga zaliczenia sprawdzianu z przygotowania do zajęć (w formie ustnej lub pisemnej) i uzyskania pozytywnej oceny ze sprawozdania z wykonanego ćwiczenia. Zaliczenie przeprowadzane jest w formie pisemnej i ustnej. Podstawą dopuszczenia do zaliczenia przedmiotu jest zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych. efekty W1, U2, K1- sprawdzane są na ćwiczeniach laboratoryjnych; efekty W1, U1– sprawdzane są podczas zaliczenia; |
Właścicielem praw autorskich jest Wojskowa Akademia Techniczna.