 |
starszy wykładowca w jednostce Wydział Elektroniki
|
dr inż.
Janusz Wawer
Zaloguj się, aby zobaczyć więcej.
Podstawowe informacje o użytkowniku
Koordynowane przedmioty
2011/12Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP
2011/12L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCNI-ME2
2011/12L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2
2011/12L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXWSI-ME2
2011/12L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELEMCSM-WPP
2012/13Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCNI-ME1
2012/13Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1
2012/13L - Miernictwo elektroniczne WELEXWSI-ME
2012/13L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2
2012/13L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELEMCSM-WPP
2013/14Z - Miernictwo elektroniczne WELEXCNI-ME
2013/14Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1
2013/14Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP
2013/14L - Miernictwo elektroniczne WELEXWSI-ME
2013/14L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2
2013/14L - Ochrona własności intelektualnej WTCNXCSI-OWI
2013/14L - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP
2013/14L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELEMCSM-WPP
2014/15Z - Metrologia prawna-PW WELEMCSI-MP-PW
2014/15Z - Miernictwo elektroniczne WELEXCNI-ME
2014/15Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1
2014/15Z - Podstawy elektroniki i miernictwa WCYIXCSI-PEIM
2014/15Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXCNI-PNoOWIiP
2014/15Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP
2014/15Z - Źródła sygnałów wzorcowych WELEMCSI-ŻSW
2014/15L - Miernictwo elektroniczne WELEXWSI-ME
2014/15L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2
2014/15L - Ochrona własności intelektualnej WTCNXCSI-OWI
2014/15L - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ
2015/16Z - Miernictwo elektroniczne WELEXCNI-ME
2015/16Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCNI-ME1
2015/16Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1
2015/16Z - Miernictwo elektroniczne cz.I IOEWXCSI-ME1
2015/16Z - Miernictwo elektroniczne1 WELEXWSI-ME1
2015/16Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXCNI-PNoOWIiP
2015/16Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP
2015/16L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2
2015/16L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXWSI-ME2
2015/16L - Miernictwo elektroniczne cz.II IOEWXCSI-ME2
2015/16L - Ochrona własności intelektualnej WTCNXCSI-OWI
2015/16L - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ
2015/16L - Pomiary i metody pomiarowe WELEMWSK-PiMP
2015/16L - System zarządania w laboratoriach metrologicznych WELEMWSK-SZwLM
2015/16L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELEMCSM-WPP
2016/17Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCNI-ME1
2016/17Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1
2016/17Z - Miernictwo elektroniczne cz.I IOEWXCSI-ME1
2016/17Z - Miernictwo elektroniczne1 WELEXWSI-ME1
2016/17Z - Podstawy kalibracji aparatury pomiarowej WELEMWSK-PKAP
2016/17Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXCNI-PNoOWIiP
2016/17Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP
2016/17Z - Wzorce wielkości WELEMWSK-WW
2016/17L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2
2016/17L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXWSI-ME2
2017/18Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1
2017/18Z - Miernictwo elektroniczne cz.I IOEWXCSI-ME1
2017/18Z - Miernictwo elektroniczne1 WELEXWSI-ME1
2017/18Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ
2017/18L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2
2017/18L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXWSI-ME2
2017/18L - Miernictwo elektroniczne cz.II IOEWXCSI-ME2
2018/19Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ
2018/19Z - Źródła sygnałów wzorcowych WELEMCNI-ŻSW
2018/19Z - Źródła sygnałów wzorcowych WELENWSI-ŹSW
2018/19L - Metrologia prawna WELENWSI-MP
2018/19L - Miernictwo elektroniczne WELEXCNI-ME
2018/19L - Miernictwo elektroniczne WELEXWSI-ME
2019/20Z - Metrologia prawna WELEMCNI-MP
2019/20Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ
2019/20Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELDXCSI-PNoOWIiP
2019/20Z - Źródła sygnałów wzorcowych WELENWSI-ŹSW
2019/20L - Metrologia prawna WELENWSI-MP
2019/20L - Miernictwo elektroniczne WELEXWSJ-ME
2019/20L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELENWSM-WPP
2020/21Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDECSM-PEJ
2020Z-E1 - Wzorce wielkości WELEMWSK-WW
2020/21L - Wzorce pomiarowe WELENWSI-WP
2020/21L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELENWSM-WPP
2021/22Z - Miernictwo elektroniczne WELEXWSJ-ME
2021/22Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDECSM-PEJ
2021/22L - Miernictwo elektroniczne IOEWXCSI-MEL-19Z
2021/22L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELENWSM-WPP
2022/23Z - Miernictwo elektroniczne WELEXCSI-MierEl
2022/23Z - Miernictwo elektroniczne WELEXWSJ-ME
2022/23Z - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WMEBECSI-19Z5-MWEN
2022/23Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDECSM-PEJ
2022/23Z - Wzorce pomiarowe WELENWSJ-WP
2022/23L - Miernictwo elektroniczne IOEWXCSI-MEL-19Z
2022/23L - Miernictwo elektroniczne WELEXCNI-ME
2022/23L - Miernictwo elektroniczne WELEXCSI-MierEl
Prowadzone przedmioty
2011/12Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2012/13Z - Podstawy miernictwa WCYIXCSI-PM:
Laboratorium (grupa 5), Laboratorium (grupa 6), Laboratorium (grupa 7), Laboratorium (grupa 8), Laboratorium (grupa 9)
2012/13Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2012/13L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2:
Laboratorium (grupa 5), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2012/13L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELEMCSM-WPP:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2013/14Z - Podstawy miernictwa WCYIXCSI-PM:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3)
2013/14Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2013/14L - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2013/14L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELEMCSM-WPP:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2014/15Z - Miernictwo elektroniczne WELEXCNI-ME:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2014/15Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 4), Laboratorium (grupa 8), Wykład (grupa 1)
2014/15Z - Podstawy elektroniki i miernictwa WCYIXCSI-PEIM:
Ćwiczenia (grupa 1), Ćwiczenia (grupa 2), Ćwiczenia (grupa 3), Ćwiczenia (grupa 4), Ćwiczenia (grupa 5), Ćwiczenia (grupa 6), Ćwiczenia (grupa 7), Ćwiczenia (grupa 8), Ćwiczenia (grupa 9), Ćwiczenia (grupa 10), Ćwiczenia (grupa 11), Ćwiczenia (grupa 12), Ćwiczenia (grupa 13), Ćwiczenia (grupa 14), Ćwiczenia (grupa 15), Ćwiczenia (grupa 16), Ćwiczenia (grupa 17), Ćwiczenia (grupa 18), Ćwiczenia (grupa 20), Ćwiczenia (grupa 21), Ćwiczenia (grupa 22), Ćwiczenia (grupa 23), Ćwiczenia (grupa 24), Ćwiczenia (grupa 25), Ćwiczenia (grupa 26), Laboratorium (grupa 10), Laboratorium (grupa 11), Laboratorium (grupa 12), Laboratorium (grupa 13), Laboratorium (grupa 14), Laboratorium (grupa 15), Laboratorium (grupa 16), Laboratorium (grupa 17), Laboratorium (grupa 23), Laboratorium (grupa 24), Laboratorium (grupa 25), Laboratorium (grupa 26), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 6), Wykład (grupa 10), Wykład (grupa 11), Wykład (grupa 12), Wykład (grupa 13), Wykład (grupa 14), Wykład (grupa 15), Wykład (grupa 16), Wykład (grupa 17), Wykład (grupa 18), Wykład (grupa 23), Wykład (grupa 24), Wykład (grupa 25), Wykład (grupa 26)
2014/15Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXCNI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2014/15Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2014/15L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 6), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2014/15L - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 1), Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2015/16Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 6), Laboratorium (grupa 9), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6), Wykład (grupa 7), Wykład (grupa 8), Wykład (grupa 9), Wykład (grupa 10)
2015/16Z - Miernictwo elektroniczne1 WELEXWSI-ME1:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5)
2015/16Z - Podstawy miernictwa WCYHXCSI-PM:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3)
2015/16Z - Podstawy miernictwa WCYIXCNI-PM:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3)
2015/16Z - Podstawy miernictwa WCYIXCSI-PM:
Ćwiczenia (grupa 1), Ćwiczenia (grupa 2), Ćwiczenia (grupa 3)
2015/16Z - Podstawy miernictwa WCYIXWSI-PM:
Ćwiczenia (grupa 1), Ćwiczenia (grupa 2), Ćwiczenia (grupa 3)
2015/16Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXCNI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Seminarium (grupa 3), Seminarium (grupa 4), Seminarium (grupa 5), Seminarium (grupa 6), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6)
2015/16Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Seminarium (grupa 3), Seminarium (grupa 4), Seminarium (grupa 5), Seminarium (grupa 6), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6)
2015/16L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 5), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6), Wykład (grupa 7), Wykład (grupa 8)
2015/16L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXWSI-ME2:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5)
2015/16L - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECNI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2015/16L - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECSI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3), Wykład (grupa 2)
2015/16L - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 2), Ćwiczenia (grupa 3), Seminarium (grupa 2), Seminarium (grupa 3), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4)
2015/16L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELEMCSM-WPP:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2016/17Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCNI-ME1:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2016/17Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2016/17Z - Miernictwo elektroniczne1 WELEXWSI-ME1:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6)
2016/17Z - Podstawy kalibracji aparatury pomiarowej WELEMWSK-PKAP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2016/17Z - Podstawy metrologii WELEXCSI-PM:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 7), Laboratorium (grupa 10)
2016/17Z - Podstawy miernictwa WCYKXCSI-PM:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3)
2016/17Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXCNI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Seminarium (grupa 3), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2016/17Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXCSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2016/17Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELEXWSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Seminarium (grupa 3), Seminarium (grupa 4), Seminarium (grupa 5), Seminarium (grupa 6), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6)
2016/17L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2:
Laboratorium (grupa 5), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4)
2016/17L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXWSI-ME2:
Laboratorium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6)
2016/17L - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECNI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1)
2016/17L - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECSI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1)
2017/18Z - Miernictwo elektroniczne 1 WELEXCSI-ME1:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6)
2017/18Z - Miernictwo elektroniczne1 WELEXWSI-ME1:
Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6), Wykład (grupa 7)
2017/18Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 1), Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2017/18Z - Podstawy metrologii WELEXCSI-PM:
Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3), Laboratorium (grupa 6), Laboratorium (grupa 7)
2017/18Z - Podstawy metrologii WELEXWSI-PM:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 3), Laboratorium (grupa 8), Laboratorium (grupa 9), Laboratorium (grupa 12), Laboratorium (grupa 13)
2017/18L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXCSI-ME2:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 3), Laboratorium (grupa 4), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6), Wykład (grupa 7)
2017/18L - Miernictwo elektroniczne 2 WELEXWSI-ME2:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2017/18L - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECSI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2017/18L - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELDXCNI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2017/18L - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELDXCSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Seminarium (grupa 3), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2018/19Z - Czujniki i przetworniki WELEBCSI-CiP:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3)
2018/19Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 1), Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2018/19Z - Podstawy metrologii WELEXWSI-PM:
Ćwiczenia (grupa 3), Ćwiczenia (grupa 4), Ćwiczenia (grupa 5), Ćwiczenia (grupa 6), Ćwiczenia (grupa 11), Laboratorium (grupa 1)
2018/19L - Miernictwo elektroniczne WELEXWSI-ME:
Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 5), Laboratorium (grupa 6), Laboratorium (grupa 7), Laboratorium (grupa 11), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3), Wykład (grupa 4), Wykład (grupa 5), Wykład (grupa 6), Wykład (grupa 7), Wykład (grupa 8), Wykład (grupa 9), Wykład (grupa 10), Wykład (grupa 11)
2019/20Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDXCSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 1), Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2019/20Z - Podstawy normalizacji oraz ochrony własności intelektualnej i przemysłowej WELDXCSI-PNoOWIiP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Seminarium (grupa 3), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2019/20Z - Wprowadzenie do metrologii WELEXWSJ-WDM:
Ćwiczenia (grupa 6), Ćwiczenia (grupa 8), Ćwiczenia (grupa 9)
2019/20L - Miernictwo elektroniczne WELEXWSJ-ME:
Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 5), Laboratorium (grupa 7), Laboratorium (grupa 8), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2019/20L - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECNI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2019/20L - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECSI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2019/20L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELENWSM-WPP:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2020/21Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDECSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 1), Ćwiczenia (grupa 2), Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Wykład (grupa 1)
2020/21L - Metrologia i systemy pomiarowe WMEBXCSI-19Z4-MSP:
Ćwiczenia (grupa 2), Laboratorium (grupa 1), Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2020/21L - Miernictwo elektroniczne WELEXCSI-MierEl:
Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 3), Laboratorium (grupa 4)
2020/21L - Podstawy pomiarów elektrycznych WELEXCSI-PPE:
Laboratorium (grupa 4), Laboratorium (grupa 6)
2020/21L - Systemy pomiarowe WELEXWSJ-SP:
Laboratorium (grupa 2), Laboratorium (grupa 4), Laboratorium (grupa 5), Laboratorium (grupa 7)
2020/21L - Wzorcowanie przyrządów pomiarowych WELENWSM-WPP:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2021/22Z - Miernictwo elektroniczne WELEXWSJ-ME:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2021/22Z - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECNI-MWEiN:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2021/22Z - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECSI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2021/22Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDECSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 1), Ćwiczenia (grupa 2), Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Wykład (grupa 1)
2021Z-E1 - Podstawy kalibracji aparatury pomiarowej WELEMWSK-PKAP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2021Z-E1 - Wzorce wielkości WELEMWSK-WW:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2022/23Z - Miernictwo elektroniczne WELEXWSJ-ME:
Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2), Wykład (grupa 3)
2022/23Z - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECNI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2022/23Z - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WELDECSI-MWEiN:
Laboratorium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2022/23Z - Miernictwo wielkości elektrycznych i nieelektrycznych WMEBECSI-19Z5-MWEN:
Wykład (grupa 1)
2022/23Z - Podstawy energetyki jądrowej WELDECSM-PEJ:
Ćwiczenia (grupa 1), Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2022/23Z - Wzorce pomiarowe WELENWSJ-WP:
Laboratorium (grupa 1), Seminarium (grupa 1), Wykład (grupa 1)
2022Z-E1 - Podstawy kalibracji aparatury pomiarowej WELEMWSK-PKAP:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
2022Z-E1 - Wzorce wielkości WELEMWSK-WW:
Seminarium (grupa 1), Seminarium (grupa 2), Wykład (grupa 1), Wykład (grupa 2)
Imiona
Janusz Józef
Nazwisko
Wawer
Stopnie i tytuły
dr inż.
